1.命令格式

命令行：Snap（SN）

菜  單：[工具]→[草圖設置（F）]

SNAP命令可設置光標以用戶指定的X、Y間距作跳躍式移動。通過光標捕捉模式的設置，可以很好地控制繪圖精度，加快繪圖速度。

2.操作步驟

執(zhí)行Snap命令后，系統(tǒng)提示：

捕捉關閉, x和y = 10：打開 (ON)/旋轉(R)/樣式(S)/特征(A)/<捕捉間距>:指定光標捕捉間距，或選擇其它選項。其中：

關閉(OFF)/  打開(ON):    關閉／打開光標捕捉模式。單擊窗口下方狀態(tài)欄上的【捕捉】按鈕，按【F9】鍵也可打開關閉／打開光標捕捉模式。

旋轉(R)：該選項可指定一個角度，使十字光標連同捕捉方向以指定基點為軸旋轉該角度。

樣式(S)：設置光標捕捉樣式。

特征(A)：設置水平間距和豎直間距。

捕捉的設置也可通過草圖設置對話框完成：如圖6-3所示：

等軸測捕捉/柵格：可利用等軸測捕捉和柵格操作來生成二維軸測圖。利用等軸測操作，你可以用繪制二維平面的方法來繪制三維視圖，類似于在紙上作圖，不要將軸測圖等同于三維制圖，只有在三維空間才能生成三維視圖。

       等軸測方式總是用三個預設平面，稱作左、右、頂視圖，這些平面的設置是不可改變的，若捕捉角度為0度，則三個等軸測軸為30度、90度和150度。

       當選用等軸測捕捉和柵格操作并選擇一個等軸測平面時，捕捉間距，柵格及十字光標線均排定在當前等軸測平面；柵格總是顯示為等距，并用Y坐標來計算柵格尺寸，若同時選擇了正交繪圖模式，則程序限定只能繪制對象在當前等軸測平面上。

打開等軸測捕捉和柵格操作：

1）執(zhí)行settings命令, 或者下拉菜單[工具]→[草圖設置]，彈出草圖設置對話框。

2）找到對話框左下角的捕捉類型和樣式欄，缺省狀態(tài)下是矩形捕捉。

3）在矩形捕捉下方，單擊選擇等軸測捕捉。

4）單擊草圖設置對話框下方的確定按鈕。

5）單擊F5，可以轉換操作的等軸平面（左、右或頂軸測面）。

3. 注意@

1）用戶可將光標捕捉點視為一個無形的點陣，點陣的行距和列距為指定的X、Y方向間距，光標的移動將鎖定在點陣的各個點位上，因而拾取的點也將鎖定在這些點位上。

2）設置光標的捕捉模式可以很好地控制繪圖精度。例如：一幅圖形的尺寸精度是精確到十位數(shù)。這時，用戶就可將光標捕捉設置為沿X、Y方向間距為10，打開SNAP模式后，光標精確地移動10或10的整數(shù)倍距離，用戶拾取的點也就精確地定位在光標捕捉點上。如果是建筑圖紙，可設為500、1000或更大值。

3）光標捕捉模式不能控制由鍵盤輸入坐標來指定的點，它只能控制由鼠標拾取的點。

4）在任何時候切換捕捉開關，可以單擊狀態(tài)條中的“捕捉”按鈕或按F9。

5）柵格及捕捉設置是保證繪圖準確的有效工具。柵格和捕捉是獨立的，雖然將柵格尺寸和捕捉尺寸匹配很有幫助，但實際使用中設置并不總是匹配的。

6）等軸測平面間切換，按F5或Ctrl+E